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HC-I回路電阻測(cè)試儀廠家能連續(xù)輸出大電流,可以有效克服“脈沖式“電源不能連續(xù)工作臺(tái)和不能有效擊穿被試品“氧化膜“的弊端,測(cè)量分辨率可達(dá)到0.1μΩ。各測(cè)量功能與進(jìn)口產(chǎn)品相當(dāng)。廣泛應(yīng)用于高壓開關(guān)接觸電阻(回路電阻)的高精度測(cè)量,同樣適用于其它需要大電流、微電阻測(cè)量方法的場合。
更新時(shí)間:2024-08-18 訪問次數(shù):848HLY-H100A回路電阻測(cè)試儀采用數(shù)字電路技術(shù)和開關(guān)電路技術(shù)制作,用于開關(guān)控制設(shè)備的接觸電阻、回路電阻的測(cè)量 測(cè)試電流采用國家標(biāo)準(zhǔn)GB763推薦的100A直流,可在100A電流的情況下直接測(cè)得回路電阻或者接觸電阻,并直接顯示,還可保存到儀器上,Z大組數(shù)為100組,測(cè)量準(zhǔn)確、性能穩(wěn)定。
更新時(shí)間:2024-08-18 訪問次數(shù):1062HZHL-100/200回路電阻測(cè)試儀測(cè)量準(zhǔn)確、性能穩(wěn)定,符合電力、供電部門現(xiàn)場高壓開關(guān)維修和高壓開關(guān)廠回路電阻測(cè)試的要求。
更新時(shí)間:2024-08-18 訪問次數(shù):962HLY-302回路電阻測(cè)試儀是電氣產(chǎn)品測(cè)試的重要內(nèi)容,根據(jù)《電力設(shè)備交接和預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》的要求,各種開關(guān)設(shè)備導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量,測(cè)試電流不得小于100A。
更新時(shí)間:2024-08-18 訪問次數(shù):940NRIHL-200A高精度回路電阻測(cè)試儀是根據(jù)中華人民共和國電力執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)DL/T845.4- 2004,采用高頻開關(guān)電源技術(shù)和數(shù)字電路技術(shù)相結(jié)合設(shè)計(jì)而成。
更新時(shí)間:2024-08-18 訪問次數(shù):782HN-200A回路電阻測(cè)試儀采用國家標(biāo)準(zhǔn)推薦的直流100A和200A。可在電流100A的情況下直接測(cè)得回路電阻,也可以在電流200A的情況下直接測(cè)得回路電阻,Z后的測(cè)試結(jié)果都用數(shù)字顯示出來。
更新時(shí)間:2024-08-18 訪問次數(shù):803JHHP-200A高精度回路電阻測(cè)試儀電力、供電部門現(xiàn)場高壓開關(guān)維修和高壓開關(guān)廠回路電阻測(cè)試的設(shè)備; 參考標(biāo)準(zhǔn):DL/T845.4-2004 電流可在50A,100A,150A,200A中自由選擇,100A、200A的情況下直接測(cè)得回路電阻; 電源技術(shù),能長時(shí)間連續(xù)輸出大電流; 高頻開關(guān)電源技術(shù)和數(shù)字電路技術(shù)相結(jié)合設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-08-18 訪問次數(shù):967JHHL-100A回路電阻測(cè)試儀采用電源技術(shù),能長時(shí)間連續(xù)輸出大電流,克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端,可以有效的擊穿開關(guān)觸頭氧化膜,得到良好的測(cè)試結(jié)果。
更新時(shí)間:2024-08-18 訪問次數(shù):962JHHL-200A回路電阻測(cè)試儀接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е陆佑|電阻增大,在大電流流過時(shí),接觸點(diǎn)溫度升高,這更加速接觸面氧化,使接觸電阻進(jìn)一步增大,持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故,因此有必要經(jīng)常或定期對(duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-08-18 訪問次數(shù):921JHHP-100A高精度回路電阻測(cè)試儀采用電源技術(shù),能長時(shí)間連續(xù)輸出大電流,克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端,可以有效的擊穿開關(guān)觸頭氧化膜,得到良好的測(cè)試結(jié)果。
更新時(shí)間:2024-08-18 訪問次數(shù):948